ऊर्जा फ़िल्टर संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी

ऊर्जा-फ़िल्टर संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी (Energy filtered transmission electron microscopy / EFTEM) संचरण इलेक्ट्रॉन माइक्रोस्कोपी में उपयोग की जाने वाली एक तकनीक है, जिसमें छवि या विवर्तन पैटर्न बनाने के लिए केवल विशेष गतिज ऊर्जा वाले इलेक्ट्रॉनों का उपयोग किया जाता है। इस तकनीक का उपयोग इलेक्ट्रॉन क्रिस्टलोग्राफी जैसी पूरक तकनीकों के साथ नमूने के रासायनिक विश्लेषण में सहायता के लिए किया जा सकता है। सिद्धांत यदि एक बहुत ही पतले नमूने को उच्च-ऊर्जा इलेक्ट्रॉनों की किरण से प्रकाशित किया जाता है, तो अधिकांश इलेक्ट्रॉन नमूने के माध्यम से निर्बाध रूप से गुजरेंगे, लेकिन कुछ नमूने के साथ परस्पर क्रिया करेंगे, जो कि इलास्टिक रूप से या इनलास्टिक रूप में बिखरे हुए हैं (फोनोन स्कैटरिंग, प्लाजमोन स्कैटरिंग या आंतरिक शेल आयनीकरण) । अस्थिर प्रकीर्णन के परिणामस्वरूप ऊर्जा की हानि और संवेग में परिवर्तन दोनों होते हैं, जो आंतरिक कोश आयनीकरण के मामले में नमूने में तत्व की विशेषता है। यदि नमूने से निकलने वाली इलेक्ट्रॉन किरण को चुंबकीय प्रिज्म से गुजरना पड़ता है, तो इलेक्ट्रॉनों का उड़ान पथ उनकी ऊर्जा के आधार पर भिन्न होगा। इस तकनीक का उपयोग इलेक्ट्रॉन ऊर्जा हानि स्पेक्ट्रोस्कोपी (ईईएलएस) में स्पेक्ट्रा बनाने के लिए किया जाता है, लेकिन ऊर्जा की एक निश्चित सीमा वाले केवल इलेक्ट्रॉनों को अनुमति देने के लिए एक समायोज्य स्लिट रखना भी संभव है, और एक डिटेक्टर पर इन इलेक्ट्रॉनों का उपयोग करके एक छवि को सुधारना। ऊर्जा विच्छेद को समायोजित किया जा सकता है ताकि केवल उन इलेक्ट्रॉनों को छवि बनाने के लिए गुजरने की अनुमति दी जा सके जिन्होंने ऊर्जा नहीं खोई है। यह छवि में योगदान करने से अस्थिर प्रकीर्णन को रोकता है, और इसलिए एक उन्नत कंट्रास्ट वाली छवि उत्पन्न होती है। स्लिट को इस प्रकार समायोजित करना कि केवल वे इलेक्ट्रॉन गुजरें जिन्होंने एक निश्चित मात्रा में ऊर्जा खोई हो, तत्व-संवेदनशील चित्र प्राप्त करने के लिए उपयोग किया जा सकता है। क्योंकि आयनीकरण संकेत प्रायः पृष्ठभूमि संकेत की तुलना में बहुत छोटा होता है, इसलिए पृष्ठभूमि प्रभाव को हटाने के लिए सामान्यतः विभिन्न ऊर्जाओं पर एक से अधिक चित्र प्राप्त करना आवश्यक होता है। सबसे सरल विधि को “जंप रेशियो तकनीक” कहा जाता है, जिसमें किसी विशेष आंतरिक शेल आयनीकरण से उत्पन्न अवशोषण शिखर की अधिकतम ऊर्जा पर इलेक्ट्रॉनों का उपयोग करके रिकॉर्ड किए गए चित्र को, आयनीकरण ऊर्जा से ठीक पहले रिकॉर्ड किए गए चित्र से विभाजित किया जाता है। दोनों चित्रों के बीच नमूने के सापेक्ष विस्थापन (ड्रिफ्ट) की भरपाई करने के लिए अक्सर चित्रों का क्रॉस-कोरिलेशन करना आवश्यक होता है। बेहतर मौलिक मानचित्रों को छवियों की एक शृंखला लेकर प्राप्त किया जा सकता है, जिससे मात्रात्मक विश्लेषण और मानचित्रण की बेहतर सटीकता की अनुमति मिलती है जहां एक से अधिक तत्व शामिल होते हैं। छवियों की एक शृंखला लेकर, विशेष विशेषताओं से ई. ई. एल. एस. प्रोफ़ाइल निकालना भी संभव है। यह भी देखें संचरण इलेक्ट्रॉन सूक्ष्मदर्शी संदर्भ आगे पढ़ें https://archive.org/details/transmissionelec0002will Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science Williams D.B., Carter C.B Kluwer Academic / Plenum Publishers 1996 0-306-45324-X registration Transmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and the EELS ATLAS Wiley-VHC 2004 3-527-40565-8 Channing. C. Ahn होफर, पी. वारबिचलेर और डब्ल्यू. ग्रोगर, इलेक्ट्रॉन स्पेक्ट्रोस्कोपिक इमेजिंग द्वारा ठोस पदार्थों में नैनोमीटर आकार के अवक्षेपों की इमेजिंग, अल्ट्रामीक्रोस्कोपी, वॉल्यूम 59, अंक 1-4, जुलाई 1995, पृष्ठ 15-31। बाहरी लिंक ई. एफ. टी. ई. एम. इमेजिंग मोड कार्ल ज़ीस कॉर्नेल में ई. ई. एल. एस. की बारीक संरचना वाले उंगलियों के निशान का एक डेटाबेस श्रेणी:सूक्ष्मदर्शिकी